Compass™ 2

 3d optical profiler compass 2

ZYGO的Compass™2计量系统为小透镜及其制造模仁的自动化计量设定了基准;这些小透镜广泛应用于智能手机、平板电脑和汽车视觉系统中,Compass2为其制程控制,设定了自动化,非接触,3D表面计量等等基准。其核心是ZYGO的相干扫描干涉技术(CSI),它保证了在可重复性计量和生产过程控制中,提供业界领先的精度、多功能性和速度。

根据需求,有两种型号的Compass 2™ 系统可选

  • Compass 2™ - ZYGO的全面解决方案;用于精密测量微透镜的表面面形、设计偏差和关联尺寸等等参数结果。当您需要详尽测量和分析旋转对称球面和非球面、截边镜片和自由曲面时,Compass 2™ 是理想的选择。
  • Compass RT - 一个快速灵活,用于精密测量小透镜关联尺寸参数的系统,以及常用的轮廓仪测量应用。当不需要测量面形及设计偏差时,这是理想的选择。 compass2
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经过生产验证的技术

Compass 2系统的核心是ZYGO基于CSI的光学轮廓仪技术,它为可重复计量和生产过程控制提供了行业领先的精度、多功能性和速度。Compass™和Compass™ RT的独特之处在于非球面形状和偏差计量以及对准特征的关系/尺寸计量

形状和偏差

  • 球面、非球面和自由曲面镜片和模具的全表面、非接触、三维测绘,具有亚纳米级的精度
  • 对设计处方的形状偏差的高级分析
  • 与钻石切削机的数据整合,以进行表面修正
镜头到基准面的表征

关系/尺寸计量学

  • 对单面或双面透镜元件的机械设计特征进行定量计量和检测,包括基准到基准和透镜到基准的特性分析
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Compass
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Compass
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三维光学轮廓仪配件指南
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3D Optical Profilers
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Compass 2
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Compass
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Compass
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三维光学轮廓仪配件指南
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3D Optical Profilers
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Compass 2
Document指南针2的规格
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Mx™ Software Films Analysis
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Measuring Sub-Angstrom Surface Texture
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Measuring Dynamic MEMS Devices
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Identifying and Controlling Vibration
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PSD Analysis
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Vision Software Suite
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ABS Geometry and MetroPro® Calculations
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Getting the Most from the Advanced Texture Application
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Filtering on the NewView™
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Haze Controls Thin Film PV Performance
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Photovoltaic Panel Measurement on a NewView™
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Measuring with an Optical Diverter on a NewView
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Measuring Honed Surfaces with a NewView
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Diesel Fuel Injector Metrology
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高坡度表面的光学剖面测量
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Mx™ Software Films Analysis
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Measuring Sub-Angstrom Surface Texture
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Measuring Dynamic MEMS Devices
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Identifying and Controlling Vibration
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PSD Analysis
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Vision Software Suite
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ABS Geometry and MetroPro® Calculations
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Getting the Most from the Advanced Texture Application
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Filtering on the NewView™
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Haze Controls Thin Film PV Performance
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Photovoltaic Panel Measurement on a NewView™
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Measuring with an Optical Diverter on a NewView
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Measuring Honed Surfaces with a NewView
DocumentAN-0053
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Diesel Fuel Injector Metrology
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高坡度表面的光学剖面测量
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Compass™ 操作手册
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Compass™ RT 操作手册
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光学轮廓仪配件指南(适用于 NewView 8/9000 和 Nexview/NX2)
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Mx™ 快速入门指南
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Mx™ 参考指南
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Mx™ 远程访问指南
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Mx™ 表面纹理参数
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Compass™ 操作手册
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光学轮廓仪配件指南(适用于 NewView 8/9000 和 Nexview/NX2)
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Mx™ 快速入门指南
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Mx™ 参考指南
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Mx™ 远程访问指南
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Mx™ 表面纹理参数
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3D Optical Profilers Are Enabling Reliable Engine Lightweighting
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A new class of wide-field objectives for 3D interference microscopy
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Accurate, repetitive, linear motion from biased piezoelectric actuators
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Advanced Metrology for Energy Efficiency
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Advances in optical metrology
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Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
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Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
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Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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A new class of wide-field objectives for 3D interference microscopy
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Accurate, repetitive, linear motion from biased piezoelectric actuators
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Advanced Metrology for Energy Efficiency
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Advances in optical metrology
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Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
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Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
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Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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Challenges and solutions in the optical measurement of aspheres
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Characterization of materials and film stacks for accurate surface topography measurement using a white-light optical profiler
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