Guardian™ 工业机箱

在车间使用 ZYGO 光学轮廓仪来优化效率。

Guardian 工业机箱现在您可以在充满挑战的环境条件下满足最严格的精密计量标准。我们的 Guardian™ 机箱将计量核心设备与周围环境隔离开来,使您能够随时随地获得最佳性能。Guardian™ 机箱性能优异、经久耐用,由 ZYGO 专门为我们的光学轮廓仪设计和制造。

人体工程学设计

该系统被设计成一个独立的设备,可以站着或坐着操作。所有的用户界面外围设备都可以被定位和调整。前面的大开口使装卸测试部件和夹具的工作变得简单又快捷。设备的内部照明也可以在需要时照亮工作区域。为了方便维修,设备周围还设置了检修板。 

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Gua

用于 ZYGO 三维光学轮廓仪的 Guardian™ 工业机箱经久耐用、符合人体工程学且结构紧凑,可在恶劣环境下提供保护,同时保持性能和功能的完整性。

主要特点:

  • 与周围环境隔离的计量核心设备
  • 占地面积小
  • 消音侧板
  • 符合人体工程学的控件
  • 带盖的大门
  • 可拆卸的盖板,便于维修
  • 工作区照明
  • 电子器件冷却
  • 过硬的制造和加工质量
  • 专为 ZYGO 光学轮廓仪设计和制造 
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Guardian 工业机箱
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三维光学轮廓仪配件指南
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3D Optical Profilers
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Guardian 工业机箱
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三维光学轮廓仪配件指南
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3D Optical Profilers
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Mx™ Software Films Analysis
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Measuring Sub-Angstrom Surface Texture
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Measuring Dynamic MEMS Devices
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Identifying and Controlling Vibration
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PSD Analysis
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Vision Software Suite
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ABS Geometry and MetroPro® Calculations
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Getting the Most from the Advanced Texture Application
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Filtering on the NewView™
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Haze Controls Thin Film PV Performance
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Photovoltaic Panel Measurement on a NewView™
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Measuring with an Optical Diverter on a NewView
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Measuring Honed Surfaces with a NewView
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Diesel Fuel Injector Metrology
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高坡度表面的光学剖面测量
标题
文件
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Mx™ Software Films Analysis
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Measuring Sub-Angstrom Surface Texture
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Measuring Dynamic MEMS Devices
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Identifying and Controlling Vibration
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PSD Analysis
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Vision Software Suite
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ABS Geometry and MetroPro® Calculations
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Getting the Most from the Advanced Texture Application
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Filtering on the NewView™
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Haze Controls Thin Film PV Performance
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Photovoltaic Panel Measurement on a NewView™
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Measuring with an Optical Diverter on a NewView
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Measuring Honed Surfaces with a NewView
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Diesel Fuel Injector Metrology
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高坡度表面的光学剖面测量
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Mx™ 快速入门指南
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Mx™ 参考指南
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Mx™ 远程访问指南
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Mx™ 表面纹理参数
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Mx™ 快速入门指南
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Mx™ 参考指南
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Mx™ 远程访问指南
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Mx™ 表面纹理参数
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3D Optical Profilers Are Enabling Reliable Engine Lightweighting
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A new class of wide-field objectives for 3D interference microscopy
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Accurate, repetitive, linear motion from biased piezoelectric actuators
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Advanced Metrology for Energy Efficiency
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Advances in optical metrology
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Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
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Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
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Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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3D Optical Profilers Are Enabling Reliable Engine Lightweighting
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A new class of wide-field objectives for 3D interference microscopy
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Accurate, repetitive, linear motion from biased piezoelectric actuators
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Advanced Metrology for Energy Efficiency
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Advances in optical metrology
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Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
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Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
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Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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Challenges and solutions in the optical measurement of aspheres
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Characterization of materials and film stacks for accurate surface topography measurement using a white-light optical profiler
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