Nexview™ NX2

Nexview NX2 三维光学轮廓仪系统Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计,集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身,是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量(CSI)轮廓仪。

这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度,并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型,优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛,可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等,是一款名副其实的轮廓仪。

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作为最新一代的旗舰产品,Nexview™ NX2 提供了大量独特的功能,旨在使用户获得更好、更快、更可靠的计量结果:

  • 大面积 1.9 MP 高灵敏度传感器,可让您在一次测量中看到更多的细节
  • 高速测量仅需数秒,提高了生产效率和过程控制能力
  • 自动化的零件对焦和设置最大限度地减少了操作员的影响和培训时间,同时减少了数据采集的时间
  • 为最苛刻的生产应用提供了具有卓越精度和可重复性的计量。
  • 采用 SureScan 技术和内置隔振系统的抗振计量,即使在振动频繁的环境中也能实现高质量的计量
  • SmartPSI™ 技术,用于超光滑表面的超快速分析
  • 二维和三维相关性为您的测量结果的可靠性提供了另一层保障,结果符合 ISO 25178 和 ISO 4287 标准。
  • Mx™ 软件用于仪器控制、分析和测量自动化
  • 真彩色成像,增强了视觉效果
  • 可变图像放大,标配三个zoom镜头,让用户可以优化视野,最大限度地提高了仪器的灵活性

您需要的轮廓仪

Nexview NX2 三维光学轮廓仪系统

您无需再根据您要测量的表面类型选择轮廓仪。Nexview™ Nx2 轮廓仪几乎可以测量任何表面的形貌,从亚埃表面粗糙度的超抛光光学表面,到高达 85 度的高斜率加工表面不等。它测量的是物体的三维,无需接触,具有其他轮廓测量技术(触针式、共焦式、焦点扫描式)的优势,但没有它们的缺点。

附加应用模块,如在透明薄膜存在的情况下进行测量以及二维视觉图像分析,可供有特定需求的客户使用。

自动化操作

Nexview™ NX2 轮廓仪是一种无需手动控制的电传操纵工具,因此它可以通过编程序列完全自动化地测量一个表面的多个区域、托盘中的多个部件或通过将多次测量拼接成一次测量来测量更大的表面。

精简设计

Nexview NX2 轮廓仪的特点是工作区域大,视野清晰,测量设置和转换既简单又快捷。

其 200 mm 的自动化集成测量台体现了简洁高效的工业设计理念。它配有一个嵌入式 ±4 度的高负载倾斜平台与偏心校正,这使得即使是测量无特征的样品,它也能轻松对准测量表面。 

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Nexview™ NX2
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三维光学轮廓仪配件指南
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3D Optical Profilers
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Nexview NX2
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Nexview NX2
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Nexview NX2 OEM Optical Profiler Head Specs
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Nexview NX2 Newview 9000 Zegage pro Objective chart
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Mx™ Software Films Analysis
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Measuring Sub-Angstrom Surface Texture
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Measuring Dynamic MEMS Devices
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Identifying and Controlling Vibration
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PSD Analysis
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Vision Software Suite
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ABS Geometry and MetroPro® Calculations
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Getting the Most from the Advanced Texture Application
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Vision Software Suite
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ABS Geometry and MetroPro® Calculations
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Filtering on the NewView™
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Haze Controls Thin Film PV Performance
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Newview 9000 Nexview NX2 OEM Optical profiler
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Nexview™ NX2 操作手册
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Nexview™ NX2 Návod k obsluze
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Nexview™ NX2 Mode d’emploi
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Nexview™ NX2 Manuale di istruzioni
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Nexview™ NX2 CE DICHIARAZIONE DI CONFORMITÀ
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Nexview™ NX2 İşletim Kılavuzu
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光学轮廓仪配件指南(适用于 NewView 8/9000 和 Nexview/NX2)
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光学轮廓仪配件指南(适用于 NewView 8/9000 和 Nexview/NX2)
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Mx™ 快速入门指南
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Mx™ 参考指南
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3D Optical Profilers Are Enabling Reliable Engine Lightweighting
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A new class of wide-field objectives for 3D interference microscopy
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Accurate, repetitive, linear motion from biased piezoelectric actuators
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Advanced Metrology for Energy Efficiency
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Advances in optical metrology
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Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
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Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
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Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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3D Optical Profilers Are Enabling Reliable Engine Lightweighting
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Challenges and solutions in the optical measurement of aspheres
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Characterization of materials and film stacks for accurate surface topography measurement using a white-light optical profiler
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