您是否需要精确、高速、非接触式的表面计量和检测？您是否是 OEM 制造商或系统集成商，希望与具有丰富经验的领先公司合作，帮助您取得成功？ZYGO 的三维光学轮廓仪现在可以作为一个完全可集成的解决方案，并有诸多成功生产集成的案例。-
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为什么选择 ZYGO 技术？
我们是相干扫描干涉测量技术（CSI）方面的专家。我们创新和独特的技术可以实现最精确和最快速的表面形貌测量。三维表面粗糙度、台阶高度、平面度、薄膜厚度、微观几何形貌等都可以通过一个传感器解决方案被量化到亚纳米级的精度。
- 高速扫描和数据处理，提高产量。
- 所有硬件系统的全自动功能和控制。
- 远程访问 API 可以实现对 Mx™ 软件的轻松和全面控制。
- 内置 python 脚本，用于创建自定义函数和分析。
我们经验丰富的工程师和科学家团队可以与您讨论您的要求和计量需求，并向您推荐最佳配置，以满足您对速度、视场和零件几何形貌的特定要求。我们期待与您合作，与您共同完成您的下一个项目。
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3D Optical Profilers Are Enabling Reliable Engine Lightweighting
A new class of wide-field objectives for 3D interference microscopy
Accurate, repetitive, linear motion from biased piezoelectric actuators
Advanced Metrology for Energy Efficiency
Advances in optical metrology
Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
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Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
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Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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Characterization of materials and film stacks for accurate surface topography measurement using a white-light optical profiler
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