NewView™ 9000

NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的,并且不需要准备样品。

该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术(CSI),它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度,并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型,可优化您的投资回报率。

高性能、高性价比和多功能性

灵活性是 ZYGO 的 NewView 产品的特点。NewView 9000 轮廓仪提供了非凡的价值,应用范围包括平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等的测量。

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所有 NewView 9000 轮廓仪都配有一个三倍变焦转台,可以使用为系统量身定做的离散变焦光学器件。样品台配置包括从全手动到带有编码行程的全自动等配置。

无论您的配置如何,所有 NewView 9000 系统都能提供高精度、快速的测量,并且使用方便,价格极具吸引力,这些都使它成为理想的多功能、高性价比三维光学轮廓仪。

一些独特的功能旨在使用户获得更好、更快、更可靠的计量结果: 

  • 大面积 1.9 MP 高灵敏度传感器,可让您在一次测量中看到更多的细节
  • 高速测量仅需数秒,提高了生产效率和过程控制能力
  • 自动化的零件对焦和设置最大限度地减少了操作员的影响和培训时间,同时减少了数据采集的时间
  • 为最苛刻的生产应用提供了具有卓越精度和可重复性的计量
  • 采用 SureScan 技术和内置隔振系统的抗振计量,即使在振动频繁的环境中也能实现高质量的计量
  • SmartPSI™ 技术,用于超光滑表面的超快速分析
  • 二维和三维相关性为您的测量结果的可靠性提供了另一层保障,结果符合 ISO 25178 和 ISO 4287 标准。
  • Mx™ 软件用于仪器控制、分析和测量自动化

灵活的配置

NewView 9000 工作台和工作区域NewView 9000 轮廓仪的特点是工作区域开阔,视野清晰,测量设置和转换既简单又快捷。系统可以配备各种样品工作台,包括全手动的 X/Y 和倾斜工作台、150 mm 行程和 4 度倾斜的全自动工作台等。由于集成的隔振系统和紧凑的尺寸,它非常适合台式安装;通过使用可选的支架和工作站,可以将它打造成一个理想的生产型系统。

 

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NewView x TN MADE
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NewView™ 9000
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三维光学轮廓仪配件指南
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3D Optical Profilers
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NewView™ 9000
标题
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NewView x TN MADE
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NewView™ 9000
Document产品手册
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三维光学轮廓仪配件指南
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3D Optical Profilers
DocumentBrochure
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NewView™ 9000
Document规格参数
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Mx™ Software Films Analysis
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Measuring Sub-Angstrom Surface Texture
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Measuring Dynamic MEMS Devices
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Identifying and Controlling Vibration
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PSD Analysis
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Vision Software Suite
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ABS Geometry and MetroPro® Calculations
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Getting the Most from the Advanced Texture Application
标题
文件
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Mx™ Software Films Analysis
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Measuring Sub-Angstrom Surface Texture
DocumentAN-0002
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Measuring Dynamic MEMS Devices
DocumentAN-0003
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Identifying and Controlling Vibration
DocumentAN-0006
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PSD Analysis
DocumentAN-0009
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Vision Software Suite
DocumentAN-0011
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ABS Geometry and MetroPro® Calculations
DocumentAN-0012
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Getting the Most from the Advanced Texture Application
DocumentAN-0013
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Filtering on the NewView™
DocumentAN-0014
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Haze Controls Thin Film PV Performance
DocumentAN-0041
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NewView™ 9000 操作手册
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NewView™ 9000 Mode d’emploi
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NewView™ 9000 Bedienungsanleitung
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NewView™ 9000 Manuale di istruzioni
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NewView™ 9000 CE DICHIARAZIONE DI CONFORMITÀ
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NewView™ 9000 İşletim Kılavuzu
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光学轮廓仪配件指南(适用于 NewView 8/9000 和 Nexview/NX2)
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Mx™ 快速入门指南
标题
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NewView™ 9000 操作手册
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NewView™ 9000 Mode d’emploi
DocumentOMP-0617A(法语)
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NewView™ 9000 Bedienungsanleitung
DocumentOMP-0617A(德语)
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NewView™ 9000 Manuale di istruzioni
DocumentOMP-0617A(意大利语)
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NewView™ 9000 CE DICHIARAZIONE DI CONFORMITÀ
DocumentZYG18-001(意大利语)
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NewView™ 9000 İşletim Kılavuzu
DocumentOMP-0617A(土耳其语)
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光学轮廓仪配件指南(适用于 NewView 8/9000 和 Nexview/NX2)
DocumentOMP-0594J
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Mx™ 快速入门指南
DocumentOMP-0570D
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Mx™ 参考指南
DocumentOMP-0550D
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Mx™ 远程访问指南
DocumentOMP-0600A
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3D Optical Profilers Are Enabling Reliable Engine Lightweighting
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A new class of wide-field objectives for 3D interference microscopy
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Accurate, repetitive, linear motion from biased piezoelectric actuators
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Advanced Metrology for Energy Efficiency
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Advances in optical metrology
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Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
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Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
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Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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3D Optical Profilers Are Enabling Reliable Engine Lightweighting
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A new class of wide-field objectives for 3D interference microscopy
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Accurate, repetitive, linear motion from biased piezoelectric actuators
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Advanced Metrology for Energy Efficiency
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Advances in optical metrology
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Angle-resolved three-dimensional analysis of surface films by coherence scanning interferometry
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Applications of model-based transparent surface films analysis using coherence scanning interferometry
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Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
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Challenges and solutions in the optical measurement of aspheres
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Characterization of materials and film stacks for accurate surface topography measurement using a white-light optical profiler
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