康涅狄格州米德尔菲尔德--开发和供应精密计量仪器和光学器件的全球领先者Zygo公司宣布发布其用于完整仪器控制和数据分析的Mx软件平台的9.0版。易用性是Mx 9.0的两个关键新功能的核心：支持Zygo的Verifire Asphere+ (VFA+)仪器，以及增加了一个 "坚固的薄膜 "模块，可以轻松测量非常粗糙的薄膜。

9.0版以Zygo的Mx软件的优势为基础，包括交互式3D地图、定量相位数据、直观的导航，以及带有统计、控制图和合格/不合格限制的内置SPC。最新的更新使Zygo最新的测量平台VFA+的用户能够只需点击几下就能完成从安装零件到测量和洞察的过程，该平台是专为测量轴对称非球面而设计的。用户界面和软件架构已经从客户的角度进行了重新设计，优先考虑了易用性和可及性。 重点是大幅简化用户界面，使其更加图形化，并更加面向任务和流程。

Mx 9.0还提供了一个用于非球体分析的通用工具箱。非球体是为众多工业部门制造的，其尺寸和几何形状范围很广，客户可以使用各种ZYGO光学计量仪器测量非球体。Mx非球面分析工具包可用于任何仪器，与用户的工作步骤保持一致--设计、制造、测量和分析。Zygo的高级科学家Martin Fay说："我们Mx软件的关键价值主张是将数据采集和分析无缝集成。在现实中，这意味着客户可以安装一个零件，进行测量，并轻松获得最终的报告和高价值的结果。该软件并不只是产生一张地图，然后输出到不同的软件包中进行分析。有了Mx，客户可以超越原始的测量数据，了解它的含义"。

Fay继续说。"Mx 9.0是第一个支持VFA+的版本，VFA+是专门为测量传统干涉仪难以测量的非球体而设计的仪器。该软件是从用户的目标角度设计的：设计和生产一个可制造的非球面，然后测量它，以确定生产的非球面与设计的偏差有多大。"

Mx 9.0也改善了其他应用的用户体验，包括测量带有透明薄膜的零件。 有了这个最新版本，Zygo推进了光学轮廓仪的信号处理技术水平，使一直被证明具有挑战性的粗糙基底上的粗糙薄膜的表征成为可能。 这些进步现在已被内置到Mx 9.0中，提高了涂层表面计量的稳健性，并能对一系列全新的表面进行表征。

Mx 9.0现在已在所有新的计量系统上发货，并可在支持的仪器上进行升级。