Verifire™ HDX 超高分辨率成像，精密中频特征计量

Verifire™ HDX 干涉仪系统

ZYGO新型Verifire HDX干涉仪是为超高精度的光学元件和系统设计和制造的，可以获得元件表面的中频特征信息。系统包含现有Verifire HD的所有功能-比如QPSI和长寿命稳频的激光器，并增加了重要的增强功能，如刷新行业水平的分辨率和成像能力，仪器传递函数（ITF）、出众的中频特征分析和大坡度表面测试，同时也兼具了ZYGO DynaPhase®系列动态采集技术，可以消除震动引起的问题并且能够在近乎任何环境中精确计量。

特殊设计优化的分辨率和性能

光学面形测试下的中频特征分析

功率谱密度（PSD）和衍射分析工具完善了Verifire HDX系统的中频特征分析能力，并通过简单直观的用户界面来分析和报告综合表面特性。

高质量的参考光学元件和配件

超高精度平面和球面透射元件

Mx™ 软件

Mx软件，泽尼克分析结果

ITF仪器传递函数-它是什么，为什么它是重要的

用特殊设计的台阶板测量到的相位数据，台阶板上刻有密集的40nm台阶，按不同频率沿着径向发散变化。

这是仪器传输函数（ITF）的所在。干涉仪系统由于其自身的设计（光学设计，相机，波长）会衰减和过滤部分表面信息，决定了该系统的ITF （测量光学表面的空间频谱的能力）。Verifire HDX系统具有高分辨率3.4k x 3.4k传感器和优化的光学设计，具有比任何商业上可获得的干涉仪系统更高的ITF，使其成为可靠测量和量化光学表面中频特性的宝贵工具。这为光学设计师们提供了一种新能力，可以自信地指定光学表面到更高精度，并定义ITF测试要求来达到系统性能目标。

名字 *		姓 *
电话号码		邮箱地址 *
公司/组织 *		职位 *
邮寄地址		城市
州或省		邮政编码
---選擇--- 安徽 北京 台湾 重庆 福建 甘肃 广东 广西 贵州 海南 河北 黑龙江 河南 香港 湖北 湖南 江苏 江西 吉林 辽宁 澳门 内蒙古 宁夏 青海 陕西 山东 上海 山西 四川 天津 新疆 西藏 云南 浙江
国家和地区
---選擇--- China Indonesia Malaysia Singapore Taiwan (R.O.C.) Thailand
检查这个消息框同意ZYGO在今后与您联系。**
请在消息框输入您的需求
* 必填字段

注意:
如果您在提交表格时遇到任何困难，请联系：

** 您随时可以通过本页面底部的“取消订阅”按钮退出表格。